高精度质谱仪SMILETRAP Ⅱ的安装调试及实验

题名:高精度质谱仪SMILETRAP Ⅱ的安装调试及实验
作者:刘玉文
学位授予单位:兰州大学
关键词:离子阱:6169,质量测量:3476,预冷却:3070,飞行时间谱:3003,蒸发冷却:2839,回旋运
动:2337,高精度:2217,质谱仪:2137,安装调试:2118,电荷态:1974
摘要:
 本文围绕高精度质谱仪SMILETRAPII的安装及升级改造开展研究,该质谱仪的预期精度为
10~(-11)。
 研究工作重点是Precision penning Trap的安装调试,包括:飞行时间MCP探测器
调试、粒子束输运、离子在预阱中冷却、离子共振频率的探测、超导磁铁的恒温。根据工作需求,
编写了离子束流优化系统软件、预阱中束Neodymium Magnets缚主程序、预阱中束缚控制程序和超导磁铁恒温系统PID
控制程序。测试结果表明,以上四个程序很成功,对提高该谱仪的性能有很大帮助。
 离子的
冷却对于提高测量精度非常重要,本文介绍了几种冷却方法及其实验。同样离子阱的温度会影响超
导磁铁的磁场变化进而造成回旋频率的漂移,引起测量误差,改进的温度稳定器将温度波动保持在±
0.002℃。为了提高被测离子的电荷态,升级后的S-EBIT电子束能量由30keV升到250keV,几乎可以得http://www.everbeenmagnet.com/en/products/110-sintered-neodymium-magnets
到任何电荷态离子。在经过这些改进后,质量测量精度大大提高。
学位年度:2009